PCIM Asia Shenzhen 2026
AI算力持续增长，数据中心供电正在向更高功率、更高电流、更高频率和更复杂的多相架构演进;与此同时，SiC、GaN等宽禁带半导体也正加速进入AI服务器电源、新能源汽车、储能、具身机器人、eVTOL等更多高功率密度应用。器件越来越快、功率越来越高，留给测试的挑战也越来越多。
?高速开关瞬态如何准确捕获?
? SiC/GaN器件的开关损耗究竟该怎么测?
?高速工作状态下的RDS(on)变化如何真实还原?
?而当“高速”和“微小电流”同时出现，又该怎样兼顾带宽与测量灵敏度?
2026年8月26日至28日，泰克科技(Tektronix)将携手东方中科亮相PCIM Asia Shenzhen 2026。围绕AIDC时代的AI电源与芯片测试以及宽禁带半导体测试两大方向，我们不仅会带来完整的测试解决方案展示，更将在现场搭建三大实测Demo。不只看参数，也不只听方案。到现场，直接看怎么测。
时间：2026年8月26日—28日
地点：深圳国际会展中心(宝安)
泰克×东方中科：Hall 16|H03展位
三大实测Demo，
直接搬到PCIM现场
相比单纯展示仪器，本次PCIM Asia，我们更希望把实际测试场景带到现场。因此，展位将重点搭建三套实测方案，围绕宽禁带器件、高速功率电子以及微小电流测量中的典型难题展开。
■ 01|SiC / GaN双脉冲测试
随着SiC、GaN器件开关速度越来越快，双脉冲测试也越来越考验整个测量系统的带宽、共模抑制能力以及测试连接方式。现场将展示泰克双脉冲测试方案，针对SiC / GaN功率器件的高速开关动态进行实测，帮助工程师观察和分析Eon、Eoff、td(on)、td(off)、tr、tf、dV/dt、dI/dt、Qrr、Err、RDS(on)等关键参数。
结合高带宽、高CMRR隔离测量能力，可进一步降低高速、高共模环境对测试结果的影响，更真实地捕获器件开关瞬态。如果你正在做SiC / GaN器件选型、开关损耗评估、驱动优化或功率回路设计，这套Demo可以直接在现场看看测试过程和波形表现。
■ 02|动态RDS(on)测试
对于GaN等高速功率器件来说，静态参数并不能完全代表器件在真实高速开关状态下的表现。尤其在实际工作过程中，器件导通压降变化很小，同时又伴随着高dV/dt和高速瞬态，想要准确获得RDS(on)，对探测方式和测量系统提出了更高要求。
本次现场将围绕动态RDS(on)测试进行实测展示，通过高性能测量方案捕获高速开关过程中微小的导通压降变化，帮助工程师更真实地观察器件在动态工作状态下的导通特性。泰克宽禁带半导体测试方案还进一步覆盖GaN动态RDS(on)、DHTOL动态老化及可靠性验证，可从器件动态导通特性延伸至长期参数变化与性能漂移分析。
■ 03|250MHz带宽亚毫安级电流测量
高速信号不难看到，大电流也不难测。真正棘手的是——既要高速，又要看到非常小的电流变化。在一些高速功率电子、器件动态特性及电源测试场景中，工程师既需要足够的带宽来捕获快速变化，又需要足够高的灵敏度来分辨微小电流。
因此，本次PCIM现场还将带来250MHz带宽亚毫安级电流测量方案，展示如何在高速动态过程中观察容易被传统测量方式忽略的微小电流细节。如果你正在面对“信号够快，但电流太小测不清”的问题，不妨到现场直接看看实际测量效果。
不止Demo，还有完整的AI电源与宽禁带测试方案
三大实测Demo是本次现场最直观的部分。除此之外，泰克还将围绕AIDC时代的AI电源与芯片测试解决方案和宽禁带半导体测试解决方案，展示从器件到电源、再到系统级验证的完整测试能力。
面向AIDC：从微小纹波到复杂多相供电
AI服务器和AIDC的快速发展，让电源系统正在变得前所未有地复杂。针对这一趋势，泰克AI电源与芯片测试方案覆盖：
? AI服务器电源完整性与电感电流测试
面向AI芯片供电中的微小纹波、高直流偏置下的直流耦合纹波，以及高频、大电流条件下的DC-DC Module电感电流测试。
?多相电源控制器多通道协同测试
针对16相、32相等复杂多相供电系统，通过多台示波器同步采集及跨机协同分析完成上电时序验证，并支持多路三态PWM信号同步捕获与状态分析。
?电源PSRR测试
准确评估输入电源纹波对输出端的影响及不同频率下的PSRR变化，帮助分析AI SoC、DDR、PMIC等低噪声敏感应用中的供电质量。
?隔离芯片CMTI测试
面向SiC、GaN高速开关应用，验证隔离器件在高dV/dt共模瞬态条件下的稳定性与抗扰性能。
同时，方案还覆盖极端温度下的芯片性能与可靠性测试，以及智能化器件失效分析，帮助工程师从供电状态观察一路延伸至器件问题定位。
面向宽禁带：
从器件动态特性到系统级功率分析
除了双脉冲和RDS(on)，泰克宽禁带半导体测试能力还覆盖GaN动态可靠性验证以及IMDA逆变器/电机测试。在GaN可靠性测试中，可围绕动态导通特性、DHTOL动态老化及相关可靠性验证，对器件长期参数变化和性能漂移进行持续观察。
而在系统端，IMDA解决方案则可以同步分析电能质量、谐波、PWM、电压、电流、转矩和转速等参数，将电气输入、功率转换与机械输出放到同一个测试视角下，实现更加完整的逆变器与电驱系统分析。
从AI服务器电源、PSU、BBU、VRM，到具身机器人关节驱动、eVTOL、新能源汽车及高频DC/DC，不同应用背后的测试问题并不完全相同。所以，除了看Demo，我们也希望现场能多聊一点。
看完Demo，还有问题?
现场直接聊
测试现场最有价值的，往往不是一组“标准答案”，而是工程师手里那个真正遇到的问题。
也许是一段不太正常的波形;
也许是一个反复测都不一致的参数;
也许是正在搭建的SiC / GaN测试平台;
也可能只是一个还没有想明白该怎么测的应用。
本届PCIM Asia期间，泰克技术专家也将在Hall 16|H03展位，与大家面对面交流。
Wanner Huang
泰克宽禁带半导体业务拓展经理
毕业于浙江大学信息工程专业，在测试测量领域深耕超过15年，长期专注功率电子领域新技术与测试方案，在EV、光伏、储能、锂电、微网、物联网等应用方向拥有丰富的电测经验。
近年来，尤其专注宽禁带半导体技术及电源应用测试，已积累逾百种不同场景的SiC / GaN电路实测经验。如果你关注的是SiC / GaN双脉冲、RDS(on)、高速开关测量、宽禁带器件应用与可靠性测试，欢迎到现场直接聊聊。
刘剑
泰克华南区技术经理
长期参与客户技术支持及行业业务拓展工作，主要涉及汽车电子、高速串行总线、射频等技术方向，并拥有丰富的一线测试测量应用经验。
如果你的问题已经从单一器件进一步延伸到汽车电子、系统验证以及复杂工程应用中的实际测量挑战，同样欢迎在现场一起讨论。
8月26日深圳，Hall 16|H03见
带着你的波形、参数、测试现象，甚至一个一直没想明白的问题来就好。
8月26日深圳，Hall 16|H03见
本届PCIM Asia，我们希望展示的不只是“有什么仪器”，而是当高速、高压、大电流、微小信号和复杂系统同时出现时，测试究竟还能怎么做。这次别只来看展。带着你的测试问题来，我们现场测，也现场聊。
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